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X-Strata920 无损伤检测X射线荧光镀层测厚仪

价格面议

联系方式:刘先生15814404453

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无损伤检测X射线荧光镀层测厚仪1、新型号设计快速分析(几秒)2、高性能、高精度、长期稳定性3、坚固耐用的设计4、简单的校准调试;卓越的长期稳定性:

无损伤检测X射线荧光镀层测厚仪 详细信息

无损伤检测X射线荧光镀层测厚仪概述:

1、新型号设计

快速分析(几秒)1-4层镀层厚度

多款规格,例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台,满足所有样品类型

开槽式样品舱可检测大面积样品,例如印制线路板等

符合ISO3487和ASTM B568检测方法

2、高性能、高精度、长期稳定性

快速精确的分析带来生产成本zui优化

精确测定元素厚度

优化的性能可满足广泛的元素测量

3、坚固耐用的设计

可靠近生产线或在实验室操作

生产人员易于使用

4、简单的校准调试

在没有标准片时,经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果

方法建立只需几分钟

无损伤检测X射线荧光镀层测厚仪

X-Strata920镀层测厚仪:又称X射线荧光镀层测厚仪,是能量色散X射线荧光(EDXRF)技术的大型台式测厚仪,是牛津仪器CMI900系列镀层测厚仪的升级产品,将取代CMI900系列产品。能进行非破坏、非接触,快速无损测量,在10秒内得出测量结果,可进行多层合金测量,具有高生产力优点,是质量管理、成本节约有力的检测工具。性

无损伤检测X射线荧光镀层测厚仪主要特点

可测元素范围:钛Ti22---铀U92;

可测定5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线;

进行贵金属检测,如Au karat评价;

材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;

测量精度高、稳定性好,测量结果精确至μin;

强大的数据统计、处理功能,测量结果输出多样化;

拥有NIST认证的标准片;

提供全球服务及。

测量精度

范围

*层(zui上层)

第二层

第三层

小于0.5 µm (20 µin)

+ 1 µin 或更好

+ 2 µin 或更好

+ 3 µin 或更好

大于0。5 µm

+ 5% 或更好

+ 10% 或更好

+ 15% 或更好

 

含量

*层

第二层

1--99 wt %

 

+ 3 wt % 或更好

 

 

技术参数

项目名称

具体描述

X射线激发系统

·垂直下照式X射线光学系统

·50W(50kV,1.0mA)空冷式微聚焦型钨W靶X射线管

准直器系统

·单准直器组件;

·多准直器自动控制组件:zui多可同时装配6种规格的准直器

·园形、正方形、矩形和多种规格尺寸准直器任选(红色为常用的):

类型

单位

准直器规格

圆形

mil

4

6

8

12

13

20

mm

0.102

0。152

0.203

0.305

0.33

0.508

矩形

mil

1x2

2x2

0.5x10

1x10

2x10

4x16

mm

0。025x0。05

0.05x0.05

0。013x0。254

0.254x0.254

0。051x0。254

0。102x0。406

 

测量斑点尺寸

在12.7mm聚焦距离时,zui小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器)

样品室

开槽式样品室,测量大型平板样品,如尺寸大于仪器宽度的线路板

项目名称

具体描述

X射线激发系统

·垂直下照式X射线光学系统

·50W(50kV,1.0mA)空冷式微聚焦型钨W靶X射线管

准直器系统

·单准直器组件;

·多准直器自动控制组件:zui多可同时装配6种规格的准直器

·园形、正方形、矩形和多种规格尺寸准直器任选(红色为常用的):

类型

单位

准直器规格

圆形

mil

4

6

8

12

13

20

mm

0.102

0.152

0。203

0.305

0.33

0.508

矩形

mil

1x2

2x2

0.5x10

1x10

2x10

4x16

mm

0.025x0.05

0。05x0。05

0.013x0.254

0。254x0。254

0.051x0.254

0。102x0。406

 

测量斑点尺寸

在12.7mm聚焦距离时,zui小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器)

样品室

开槽式样品室,测量大型平板样品,如尺寸大于仪器宽度的线路板

样    品    台

  

固定样品台

·Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制

·zui大样品高度33mm

·仪器外形尺寸(×深×):407×770×305mm(16×30。3×12")

  

加深样品台

·Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制

·zui大样品高度160mm

·样品仓有4个位置卡槽,相邻卡槽垂直间距25.4mm,样品台支架可放置在不同位置的卡槽上,可测不同高度的样品

·样品仓内部尺寸(×深×:279×508×152mm(11×20×6

·仪器外形尺寸(×深×):407×770×400mm(16×30.3×15.7")

·自定义样品台:依据客户要求提供更高的样品台,满足高度>160mm的样品测量,仓内设置多个位置卡槽,相邻卡槽垂直间距25。4mm

  

自动样品台

·Z轴自动控制,移动行程:43mm(1.7"

·XY轴自动控制,样品台移动行程:178×178mm(7x7

·zui大样品高度33mm

·样品台尺寸(×深):610×560mm(24×22”

·仪器外形尺寸(×深×):610×1037×375mm(24×40。8×14。8")

·可提供对样品的自动和编程控制,多点测量

·鼠标控制样品台移动,精确地定位样品测量点

镭射聚焦

·镭射用于自动精确定位X射线光管/探测器与样品到测试距离

·单击鼠标,Z轴自动扫描

·Z轴自动聚焦到焦距12.7mm,同时将样品图像定焦(显示在屏幕上)

·避免了人为操作误差

样品观察系统

·高分辨率彩色CCD观察系统,标准光学放大倍数为30倍

·可选50倍和100倍观察系统

结果输出

·测量数据报告可直接打印或一键导出到PDF文件、Excel文件,为质量管理保留宝贵的原始资料

·测量数据报告可包含测量数据、测量样品图像、各种统计分析图表、自定义的报告模板(系统预置模板、含用户信息的自制模板)

计算机系统配置

·IBM计算机

·佳能彩色喷墨打印机

分析应用软件

·操作系统:Windows XP中文平台

·分析软件包:SmartLink FP软件包

系统安全性

·Z轴保护传感器

·安全防射线光闸

·样品室门开闭传感器

·X射线锁

·X射线警示灯

·紧急停止按钮

·前面板安全钮和后面板安全锁

·多用户密码保护,只向日常操作员设定有限的授权,操作界面简单,功能受限

·主管人员可进行系统维护

·系统自动生成操作员的使用记录

·开启“自动锁定”功能可以防止未授权人员使用;测量结束后,超过预设的时限时,软件锁定并要求输入密码

测量自动化功能

鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”

多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式

测量位置预览功能

激光对焦和自动对焦功能

统计计算功能

平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图

任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书

数据分组、X-bar/R图表、直方图

数据库存储功能

 

 


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